GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2423.16-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J:長霉試驗方法GB2423.18-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)GB2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法GB2423.20-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法GB...